BLE信令測(cè)試平臺(tái),廣泛用于生產(chǎn)、研發(fā)、測(cè)試及認(rèn)證等環(huán)節(jié),用于測(cè)試智能手機(jī)、電腦、智能音響、TWS耳機(jī)及其他包含藍(lán)牙功能產(chǎn)品的無(wú)線性能指標(biāo)。
了解更多 >主要幫助客戶快速定位研發(fā)問(wèn)題、快速區(qū)分射頻硬件設(shè)計(jì)問(wèn)題、底層驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)問(wèn)題、以及上層軟件設(shè)計(jì)問(wèn)題,顯著提高研發(fā)效率。
了解更多 >支持上下行多用戶OFDMA場(chǎng)景測(cè)試、RU資源配置測(cè)試等。 采用WTE200無(wú)線綜合測(cè)試儀配置了四套矢量信號(hào)分析儀(VSA)同時(shí)分析信號(hào), 和四套矢量信號(hào)源(VSG)同時(shí)發(fā)射信號(hào)。
了解更多 >可實(shí)現(xiàn)一托四,OTA測(cè)試,即可同步測(cè)試四個(gè)被測(cè)件,不會(huì)互相干擾,可以極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間成本。
了解更多 >該測(cè)試方案可廣泛用于生產(chǎn)、研發(fā)、測(cè)試及認(rèn)證等環(huán)節(jié)用于測(cè)試智能手機(jī)、電腦、智能音響、TWS耳機(jī)及其他藍(lán)牙功能產(chǎn)品包括經(jīng)典藍(lán)牙(BR / EDR)、低功耗藍(lán)牙(BLE 4.2/ 5.0 / 5.1/5.2)的無(wú)線性能指標(biāo),在保障測(cè)試數(shù)據(jù)高精準(zhǔn)的前提下,進(jìn)一步為客戶降低產(chǎn)品測(cè)試時(shí)間成本,讓測(cè)試過(guò)程更高效。
了解更多 >支持Mac層吞吐量、EVM、RVR、AP Wi-Fi Load等測(cè)試;支持測(cè)量產(chǎn)品/芯片的功率、靈敏度等測(cè)試指標(biāo);
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