作為一款高效測(cè)試分析工具，可實(shí)現(xiàn)4層協(xié)議（RF/PHY/MAC/Transport）數(shù)據(jù)測(cè)試可視化，各層測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)聯(lián)動(dòng)，快速準(zhǔn)確定位產(chǎn)品問(wèn)題。

痛點(diǎn)問(wèn)題

       客戶在使用不同儀表廠商的產(chǎn)品開(kāi)展測(cè)試測(cè)量過(guò)程中，由于儀表廠商各自通常是使用不同的層級(jí)協(xié)議提供測(cè)試服務(wù)，且都不重視MAC層在四層協(xié)議系統(tǒng)中的開(kāi)發(fā)應(yīng)用，導(dǎo)致各層數(shù)據(jù)之間會(huì)因?yàn)镸AC層的斷層緣故無(wú)法連通，甚至出現(xiàn)無(wú)法抓包多層數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)同步困難或者測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)沒(méi)有任何關(guān)聯(lián)性等問(wèn)題。

對(duì)于品牌廠商而言，?？鄲烙冢涸谶x擇不同芯片廠家產(chǎn)品的過(guò)程中，單純的射頻性能測(cè)試，會(huì)發(fā)現(xiàn)各個(gè)芯片廠家指標(biāo)相差無(wú)幾，區(qū)別度不高。但是客戶實(shí)際體驗(yàn)差別確非常大。品牌廠商自身無(wú)法僅根據(jù)射頻指標(biāo)來(lái)區(qū)別芯片供應(yīng)商的優(yōu)劣；不同芯片供應(yīng)商可以通過(guò)各種理由規(guī)避其產(chǎn)品本身問(wèn)題，而品牌廠商卻無(wú)法判斷其中真假。

推薦方案

       四層協(xié)議分析儀解決方案--可以對(duì)四層協(xié)議（RF/PHY/MAC/Transport）數(shù)據(jù)測(cè)試可視化、各層測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)聯(lián)動(dòng)，可以幫品牌廠商快速準(zhǔn)確定位產(chǎn)品問(wèn)題，無(wú)論是在哪一層出現(xiàn)問(wèn)題，都可以找出讓客戶實(shí)際體驗(yàn)差別很大的根本"元兇"，讓芯片供應(yīng)商無(wú)法推脫其產(chǎn)品本身問(wèn)題，提高品牌廠商的甲方建設(shè)能力水平。且每一層即獨(dú)立又有聯(lián)系，獨(dú)立是因?yàn)槿绻且粚映霈F(xiàn)問(wèn)題了不會(huì)影響其他層的工作，聯(lián)系是因?yàn)樯蠈訁f(xié)議又使用下層協(xié)議提供的服務(wù)。

原理圖示

測(cè)試準(zhǔn)備

請(qǐng)選用深圳市中承科技有限公司W(wǎng)TE系列無(wú)線綜合測(cè)試儀搭配WTERun軟件使用。

1.使用WTERun.exe安裝包進(jìn)行上位機(jī)軟件安裝（默認(rèn)安裝即可），安裝完成后可以看到菜單欄和桌面會(huì)生成快捷方式。

2.將WTE系列無(wú)線綜合測(cè)試儀進(jìn)行啟動(dòng)熱機(jī)（開(kāi)機(jī)狀態(tài)下至少5分鐘）。

3.待其熱機(jī)完成后將儀表背面的網(wǎng)口用網(wǎng)線連接至上位機(jī)然后雙擊WTE Run

開(kāi)始運(yùn)行上位機(jī)軟件。

4.用射頻線將儀表正面的射頻口與屏蔽箱進(jìn)行連接，把被測(cè)件放置于屏蔽箱內(nèi)，最后通過(guò)WTE Run軟件設(shè)定所需參數(shù)控制儀表和被測(cè)件開(kāi)始測(cè)試。

注：可參考《WTE Run用戶操作手冊(cè)》文檔進(jìn)行具體測(cè)試項(xiàng)操作。