雷科的毫米波射頻測試專利，通過小型化的結(jié)構(gòu)設(shè)計，使被測物體不僅拆裝方便，而且使被測物體輻射面的幾何中心與旋轉(zhuǎn)中心接近重合。不僅減少了射頻測試平臺占用的空空間，實現(xiàn)了小型化，而且提高了效率和精度，使測試更加靈活。

北京理工大學(xué)雷科電子信息技術(shù)有限公司(雷科理工大學(xué))憑借在雷達上的優(yōu)異表現(xiàn)，于18年正式加入百度Apollo硬件開發(fā)平臺。不過，為了滿足整個雷達的測試，雷科科技也在毫米波射頻領(lǐng)域不斷深入。

隨著雷達技術(shù)的發(fā)展和進步，毫米波雷達已經(jīng)應(yīng)用于許多民用行業(yè)，如汽車電子、無人機、智能交通、人體安全檢測等。毫米波測試技術(shù)是毫米波雷達商業(yè)化和批量生產(chǎn)的關(guān)鍵因素。但在測試中，射頻天線和信號處理器的測試內(nèi)容不同，分系統(tǒng)和整機的測試內(nèi)容也有較大差異。上述特點導(dǎo)致雷達測試效率低。一旦雷達開始量產(chǎn)，尤其是進入消費電子行業(yè)，測試技術(shù)的優(yōu)化就成為亟待解決的難題。

現(xiàn)有技術(shù)中，射頻天線的測試是在微波暗室中設(shè)計的，但暗室中的緊湊場和近場掃描設(shè)備效率不高但成本極高，不適合批量測試。整個雷達的測試設(shè)計都是在微波暗室的遠(yuǎn)場條件下進行的，不僅占用了暗室很大的空空間，而且很難滿足被測物體姿態(tài)高頻調(diào)整的要求。

因此，2018年6月21日，北理工雷科申請了名為“一種小型化毫米波射頻測試平臺”的發(fā)明專利(申請?zhí)?201810645203.4)，申請人為北理工雷科電子信息技術(shù)有限公司

圖1毫米波射頻測試平臺總體結(jié)構(gòu)示意圖

圖1是本專利提出的一種小型毫米波射頻測試平臺，主要包括臺式相機盒3、近端平臺1、遠(yuǎn)端平臺2、待測物體4、射頻工具5和安裝在臺式相機盒3內(nèi)部的射頻收發(fā)模塊6。

近端平臺1和遠(yuǎn)端平臺2分別安裝在桌面黑匣子3兩端的內(nèi)底部，射頻工裝5安裝在近端平臺1上，待測物體4安裝在射頻工裝5上，射頻收發(fā)模塊6安裝在遠(yuǎn)端平臺2上，射頻收發(fā)模塊6與待測物體4相對，射頻收發(fā)模塊6向待測物體4發(fā)射或接收毫米波。通過近端平臺1和遠(yuǎn)端平臺2，將待測物體4和射頻收發(fā)模塊6布置在半空中，形成更好的無反射電磁環(huán)境。桌面黑匣子3由絕緣外框7和吸波材料組成，可以形成無反射的電磁環(huán)境。

圖2射頻工具安裝示意圖

射頻工具安裝示意圖如圖2所示。射頻工裝5整體從上到下由支架11、橫向平移臺10、方位轉(zhuǎn)向臺9和近端平臺1組成。

其中，支架11可以為安裝有其自身底板的待測物體4提供正交安裝位置，并實現(xiàn)測試安裝有平板的待測物體4所需的正交姿態(tài)。橫向平移臺10可以通過橫向長孔13中的螺釘與方位操縱臺9固定連接，使得支架11和橫向平移臺10可以一起沿著橫向長孔13橫向移動，直到被測物體4的輻射口面的幾何中心與方位操縱臺9的旋轉(zhuǎn)中心重合。方位轉(zhuǎn)向臺9由電機控制，可根據(jù)指令在水平面內(nèi)自由旋轉(zhuǎn)，以保證待測物體4與射頻收發(fā)模塊6相對。

因此，射頻工裝可以實現(xiàn)待測物體在固定區(qū)域內(nèi)的移動，不僅使得待測物體拆裝方便，而且使得待測物體輻射口面的幾何中心與旋轉(zhuǎn)中心接近重合。不僅減少了射頻測試平臺占用的空空間，實現(xiàn)了小型化，而且提高了效率和精度，使測試更加靈活。

雷科作為院士與高校強強聯(lián)合的企業(yè)之一，堅持創(chuàng)新引領(lǐng)、融合發(fā)展，不斷為用戶提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和服務(wù)，也為毫米波雷達的發(fā)展保駕護航。

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