TWS高通量測試方案
可實現(xiàn)一托四,OTA測試,分時測試四個被測件,不會互相干擾,可以極大節(jié)省測試時間成本和測試成本。
痛點問題
對于生產(chǎn)商而言,傳統(tǒng)的測試方案大多是有乒乓+多個屏蔽箱的方式測試,增加了測試成本和場地面積,一旦產(chǎn)品數(shù)量眾多每次測試還需要人工進(jìn)行輪換被測件依次進(jìn)行測試,無疑將會耗費大量時間成本。
推薦方案
TWS高通量測試方案——領(lǐng)先行業(yè)技術(shù)實現(xiàn)1托4:儀表可以支持1托多拼板測試(至多可支持對四個被測件分時測試),且能夠保障四個被測件與單個被測件測量數(shù)據(jù)基本相差無誤,減少人工輪換被測件的次數(shù),節(jié)約時間成本,適用于大規(guī)模量產(chǎn)測試。
測試方法
(1)標(biāo)記4個被測件為DUT1,DUT2,DUT3,DUT4,使用網(wǎng)線連接上位機(jī),射頻線分別連接儀表、屏蔽箱。
(2)將4個被測件按對應(yīng)位置放入屏蔽箱中,DUT1位置不變,在PC端調(diào)試進(jìn)入測試模式,啟動測試依次檢測該4個被測件的輸出功率、靈敏度、調(diào)制特性、初始載波頻率容限偏置和頻漂等指標(biāo)數(shù)據(jù)。
(3)匯總數(shù)據(jù),對比并分析。
測試時間 | ||||
被測件 | DUT1 | DUT2 | DUT3 | DUT4 |
測試項 | 輸出功率、靈敏度、調(diào)制特性、初始載波頻率容限、頻偏和頻漂 | |||
測試信道 | Channel 0,39,78 | |||
測試單個DUT時間 | 14s | 14s | 14s | 14s |
測試總時間 | 52 s |